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本实用新型提供一种多通道芯片测试平台，涉及芯片测试技术领域，包括主机框架，主机框架的顶部设有测试面板，测试面板的一侧设有主计数器和备份计数器，测试面板的另一侧设有辅助支架和安装支架，测试面板靠近辅助支架的位置设有定位平台，辅助支架的侧面设有...
该专利属于深圳市百禾芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市百禾芯半导体有限公司授权不得商用。

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