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本发明公开了一种可自清理的半导体芯片检测用定位装置，涉及半导体芯片检测技术领域，旨在解决半导体芯片在检测时容易偏移，影响检测质量，且不能对半导体芯片上的灰尘进行清理的问题，其技术方案要点是：包括底座
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该专利属于浙江晶睿电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江晶睿电子科技有限公司授权不得商用。

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