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本发明公开了一种接触式芯片性能检测设备及其检测方法，涉及芯片测试领域，包括安装座
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该专利属于深圳市芯都半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯都半导体有限公司授权不得商用。

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