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本发明公开了一种二次仪表校准方法，涉及二次仪表校准技术领域，包括系统初始化与自检；进行自动化多点校准；实时反馈并进行自适应校准；实时监测环境因素并记录数据，根据环境因素的变化自动调整校准参数；系统自动分析所有校准数据，基于数据分析的结果，系...
该专利属于北京市计量检测科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京市计量检测科学研究院授权不得商用。

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