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本发明提供一种测试结构版图处理方法，包括选取目标结构；对版图进行自动截图：定义截图时包含的图层；以所述目标结构顶层单元的名称命名截图图像，并将截图名称标注于截图图像中；获取所述目标结构的引脚名称，标注于截图图像中；预设评价截图图像分辨率的尺...
该专利属于杭州广立微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州广立微电子股份有限公司授权不得商用。

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