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本发明提供了一种雷管芯片测试系统和方法，其可针对不同型号芯片满足不同测试需求，通用性好；所述上位机，与被配置有待测芯片代号的数据服务平台连接，用于向所述下位机发送操作指令，并根据所述下位机返回的信息和调用的所述待测芯片代号获得测试结果，以及...
该专利属于无锡盛景微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡盛景微电子股份有限公司授权不得商用。

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