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半导体元件的探针设备制造技术
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文档序号:39404243
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本公开提供一种探针设备。该探针设备包括一平台;一机械手臂,设置在该平台上并具有一探针;以及一测试装置,设置在该平台上。该测试装置包括一插槽,具有容纳一待测元件的一腔室;以及一盖体,设置在该插槽上。该插槽包含一导热材料。该盖体包括一盘体;一电...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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