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本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种基于SystemVerilog的内存管理方法、电子设备和介质,步骤S1、获取待测芯片设计的进程列表{B1,B2,
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该专利属于沐曦集成电路（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过沐曦集成电路（上海）有限公司授权不得商用。

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