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本公开提供一种频率测量方法，其特征在于，包括：将馈入的待测微波信号调制到光载波上，得到调制信号；获取所述调制信号的光信号功率；根据所述光信号功率，计算微波频率测量结果。本公开提供的方法无需使用色散元件和光电探测器，结构简单易于集成小型化，系...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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