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本申请涉及一种残余应变的检测系统及其检测方法,用于检测待测样品的残余应变,残余应变的检测系统包括光学检测组件、光学检测装置与运算装置。光学检测组件包括发光源、起偏器与检偏器。残余应变的检测方法包括:设置待测样品在起偏器与检偏器之间,且检偏器...该专利属于业成光电(深圳)有限公司业成光电(无锡)有限公司英特盛科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过业成光电(深圳)有限公司业成光电(无锡)有限公司英特盛科技股份有限公司授权不得商用。