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本发明公开了一种AOI检测系统及检测方法，属于面板检测领域，其将第一检测设备的上下料工位和转运机构的两个转运单元在第一高度和第二高度上对准，使得待测面板的进出料形式，能够充分结合其在第一检测设备中的检测过程，以减短待测面板在设备中由于调整所...该专利属于苏州精濑光电有限公司武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州精濑光电有限公司武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。