温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质，方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；对待测硬盘进行异常掉电；当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二...
该专利属于深圳市晶存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶存科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。