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本实用新型公开了导热硅胶片低干扰性测试装置，包括测试箱，还包括开设在测试箱内部的安装槽，所述测试箱的内部在安装槽的分割作用下形成第一测试腔及第二测试腔，所述安装槽上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框，所述安装框上开设有方形槽，所述方形槽...
该专利属于华中技术（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华中技术（深圳）有限公司授权不得商用。

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