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缺陷分析方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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下载缺陷分析方法、装置、设备及存储介质的技术资料
文档序号:39002824
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本申请提供一种缺陷分析方法、装置、设备及存储介质,可用于人工智能领域或其他领域。该方法包括:接收多个设备发送的多个缺陷分析文本,缺陷分析文本中包括故障对象的至少一个缺陷类型、以及每个缺陷类型对应的修复主体;判断多个缺陷分析文本中是否存在目标...
该专利属于中国银行股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国银行股份有限公司授权不得商用。
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