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本发明提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，包括：确定图像内的缺陷种类和位置；缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，将密...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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