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本申请提供了一种芯片流道结构及纳米孔测序装置，沿通入物流通方向，所述芯片流道结构包括：顺次设置的第一过渡区、芯片入口区、芯片区、芯片出口区和第二过渡区；所述第一过渡区与所述芯片入口区呈角度设置，所述第二过渡区与所述芯片出口区呈角度设置；所述...
该专利属于北京齐碳科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京齐碳科技有限公司授权不得商用。

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