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本申请公开了一种优化测试方法、电子设备及存储介质，该方法包括：获取电驱系统的电磁干扰测试数据；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对不符合的电磁干扰测试数据进行分析，以确定电驱系统中待调整的电磁干扰测...
该专利属于浙江零跑科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江零跑科技股份有限公司授权不得商用。

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