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分析集成电路时序变化制造技术
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文档序号:38888286
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本公开涉及分析集成电路时序变化。在电路设计测试期间,在测试环境的计算机实现的方法中使用自适应时钟模型和电压噪声模型,以确定电压变化和自适应时钟对电路设计时序的动态影响。计算机实现的方法使用结合了基于图的方法和基于路径的方法的混合阶段,也可以...
该专利属于辉达公司所有,仅供学习研究参考,未经过辉达公司授权不得商用。
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