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本发明提供的一种电感参数提取方法，所述参数提取方法包括：面剖分；描述线性方程组；建立等效表面阻抗；建立RWG基函数和roof
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该专利属于芯和半导体科技（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯和半导体科技（上海）股份有限公司授权不得商用。

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