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本实用新型公开了一种老化房测试系统，包括老化房外壳，老化房外壳用于对电子高性能电子产品进行高温和恶劣环境测试，且老化房外壳内壁的两侧开设有导向槽，所述导向槽顶部开设有限位槽，所述导向槽的底部开设有卡槽。本实用新型通过固定结构，将高性能电子产...
该专利属于上海圣试电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海圣试电子科技有限公司授权不得商用。

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