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本发明公开了一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法，包括：1)采集待检测的元器件的RGB图像；2)将RGB图像通过缺陷空间映射网络，得到缺陷空间映射图；3)得到RGB图像的关键点坐标；将缺陷空间映射图分别输入区域建议网络和主干网络，获得R...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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