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本发明公开了一种全自动半导体检测设备，包括机柜，机柜上部设有检测位，检测位上设有旋转台，旋转台上设有多个工位，且其一侧布设有上料机构和下料机构，另一侧周围布设有多个检测机构，上料机构的内侧设有上料搬运机构，下料机构内侧设有下料搬运机构，上料...
该专利属于珠海诚锋电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海诚锋电子科技有限公司授权不得商用。

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