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本发明公开一种薄板原位磁特性测试方法，包括：调整测试装置的高度与角度，使得测试装置靠近磁屏蔽体待测位置；将带有激励线圈的辅助磁轭，贴紧测试表面，并锁紧真空吸盘；启动数据采集程序，磁场强度线圈和磁感应强度探针在电动推杆的作用下，靠近磁屏蔽体测...
该专利属于北京航空航天大学杭州创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学杭州创新研究院授权不得商用。

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