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本发明涉及AOI表面缺陷检测，特别是一种高反光多曲面类产品表面缺陷检测方法，其包括：设立一产品成像位(6)；对放置在产品成像位的产品表面的各处分别进行明场2D成像、暗场2D成像及3D成像；将得到的明场2D成像数据、暗场2D成像数据及3D成像...
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