下载半导体结构及其形成方法的技术资料

文档序号:38202584

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本申请提供半导体结构及其形成方法,所述半导体结构包括:基底,所述基底包括半导体衬底以及位于所述半导体衬底表面的外延层,所述外延层中包括用于形成沟槽栅极结构的栅极区域;掩膜层,覆盖部分所述栅极区域以及与该部分栅极区域邻接的外延层,所述掩膜层的...
该专利属于飞锃半导体(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞锃半导体(上海)有限公司授权不得商用。

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