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本发明公开了一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法，包括测试信号源产生电路，用于产生注入相控阵射频芯片主信号链的信号，和为本振电路提供输入信号；本振电路，用于根据测试信号源产生电路提供的输入信号，产生提供给信号处理电路...
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