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本发明属于集成电路生产技术领域，公开了集成电路引线框架缺陷检测仪器，包括模拟腔体及对称设于其外侧壁中下部的支撑腿，模拟腔体呈一侧开口的中空腔体设置，且模拟腔体的外壁的顶部和底部对称设有开口，模拟腔体的开口处设有冷热环境模拟发生机构，模拟腔体...
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