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本发明公开了一种用于FLASH型MCU的测试电路及测试方法，属于芯片技术领域。本发明一种用于FLASH型MCU的测试电路，该电路包括协议解析模块、功能控制模块、外部控制系统以及待测电路；所述协议解析模块对外部控制系统发送的指令进行解析，将解...该专利属于海速芯（杭州）科技有限公司深圳海速芯业科技有限公司无锡市海速芯业电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海速芯（杭州）科技有限公司深圳海速芯业科技有限公司无锡市海速芯业电子科技有限公司授权不得商用。