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本实用新型公开了一种芯片测试用定位治具，包括压盖，所述压盖底部中间设置有连接板，所述压盖底部等距开设有第一通孔，所述压盖内等距开设有与第一通孔相连通的腔室，所述腔室内设置有安装柱，所述安装柱内开设有安装腔，所述安装腔内设置有弹簧以及圆杆，所...
该专利属于三公井精密科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三公井精密科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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