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一种半导体弹片针测试结构制造技术
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下载一种半导体弹片针测试结构的技术资料
文档序号:37868518
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本实用新型公开一种半导体弹片针测试结构,包括有弹片针,该弹片针呈左右宽度对称结构,其包括有依次自上而下一体成型连接的第一接触部、弹性部和第二接触部,第一接触部的上端具有针头,该针头呈W形,第二接触部的下端具有针尾,该针尾呈圆弧凸状。通过将弹...
该专利属于湖南湘合智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过湖南湘合智能科技有限公司授权不得商用。
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