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本发明涉及半导体探测器技术领域，尤其是指一种半导体探测器能谱测量方法。由于信号波形面积不受电荷灵敏前放输出的上升时间的影响，本发明所提供的半导体探测器能谱测量方法，针对钙钛矿类半导体辐射探测器信号上升时间长导致的弹道亏损等问题，通过计算信号...
该专利属于苏州大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州大学授权不得商用。

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