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一种引线框架的出货方法，包括：根据第一引线框架，获取第一引线框架的源图像；根据所述第一引线框架的源图像检测第一瑕疵，所述第一瑕疵为第一引线框架的瑕疵；当检测到若干第一瑕疵时，获取对应的若干第一瑕疵图像和若干第一瑕疵特征数据；采用第一深度学习...
该专利属于先进半导体材料（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过先进半导体材料（深圳）有限公司授权不得商用。

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