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本发明涉及一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置，包括：测试机构、控制机构、观测机构；测试机构包括力传感器(1)、试样台(2)、微型线性位移平台(3)、压头(4)、盖板(5)、单轴位移平台(6)、双轴位移平台(7)、组合夹头(13)；控制机...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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