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基于模块化设计的芯片测试插座异物检测装置制造方法及图纸
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下载基于模块化设计的芯片测试插座异物检测装置的技术资料
文档序号:37517238
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本实用新型公开了一种基于模块化设计的芯片测试插座异物检测装置,涉及芯片测试设备领域。异物检测装置设置于半导体芯片测试系统的驱动盘,通过获取芯片测试插座图像以完成异物检测,主要包括相机、光源、推进器状态传感器、网络和USB接口、DC
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该专利属于英特尔产品(成都)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔产品(成都)有限公司授权不得商用。
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