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本发明提供的一种芯片测试装置，包括支架组件、测试组件、驱动组件和磁体，其中，测试组件与所述支架组件连接，所述测试组件适于与待测芯片连接，驱动组件与所述支架组件连接，磁体设于所述待测芯片一侧，所述磁体与所述驱动组件连接且受所述驱动组件驱动而相...
该专利属于蚌埠希磁科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过蚌埠希磁科技有限公司授权不得商用。

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