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一种针对数字集成电路时序老化的快速分析方法技术
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下载一种针对数字集成电路时序老化的快速分析方法的技术资料
文档序号:37345736
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本发明属集成电路技术领域,涉及集成电路可靠性设计中电路时序的老化效应分析,尤其是一种针对数字集成电路时序老化的快速分析方法。本发明中由输入的电路时序路径构建电路图,针对每一种类型的延时单元引入一个老化因子;采用基于Endpoint的关键路径...
该专利属于复旦大学所有,仅供学习研究参考,未经过复旦大学授权不得商用。
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