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本发明涉及划痕检测技术，揭露了一种基于IGBT器件的表痕分析方法，包括：获取待测电子器件的原图，对所述待测电子器件的原图进行滤波处理，得到滤波图像；对所述滤波图像进行边缘检测，得到划痕像素点；对所述划痕像素点进行区域扫描，得到像素团块；对所...
该专利属于广东仁懋电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东仁懋电子有限公司授权不得商用。

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