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本发明公开了一种激光微区化学分析取样基体效应快速诊断装置，该装置包括用于产生剥蚀激光的激光器，激光剥蚀样品形成的动态剥蚀羽形貌被探测光系统产生的探测激光平行均匀照射，形成的阴影被第一相机瞬态捕捉，随后第一相机将激光剥蚀羽宏观瞬态形貌传递至计...
该专利属于中国地质大学（武汉）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（武汉）授权不得商用。

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