温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种ECC错误注入功能验证方法，包括步骤：基于待测设计功能搭建验证平台，所述待测设计为需要进行功能验证的模块；获取待测设计添加ECC校验位后的地址和数据信息；设置错误随机约束条件，调用脚本生成满足约束条件的注错测试向量，从注错测...
该专利属于山东华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。