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本申请技术方案提供一种电迁移测试的方法，包括：获得待测样本的实际应用条件、电迁移测试时的应力温度以及失效分布方差；基于所述失效分布方差，获得在所述应力温度下，满足所述实际应用条件时的应力测试时间t
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该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。

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