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一种用于PCB检测的零平面校正方法，涉及电路板检测技术领域，该方法在待测电路板的三维俯视图中密集设置采样点，并根据同位置二维俯视图剔除无效采样点，再根据有效采样点邻近区域中的有效像素点计算出采样点的零平面高度，再根据计算结果拟合出待测电路板...
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