下载半导体器件的制造方法、衬底处理装置、及程序的技术资料

文档序号:37039608

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供下述技术,所述技术进行:(a)向在表面露出第1基底和第2基底的衬底供给成膜阻碍气体,在第1基底的表面形成成膜阻碍层的工序;(b)向在第1基底的表面形成成膜阻碍层之后的衬底供给成膜气体,在第2基底的表面上形成膜的工序;和(c)在非等...
该专利属于株式会社国际电气所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社国际电气授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。