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本发明涉及图像处理技术领域，提供了一种石英晶片的外观质量评估方法及系统，所述方法包括：采集获得第一图像信息，输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得多个缺陷区域；采集多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息，输入石英晶片缺陷数量分析模型，获得...
该专利属于日照皓诚电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过日照皓诚电子科技有限公司授权不得商用。

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