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本发明公开了一种功率半导体热可靠性测试装置，包括老化试验电路，该老化试验电路包括加热电源以及分别与其并联的测量电源和若干个测试电路；每个测试电路均包括串联的若干个待测功率半导体老化工位，以及与每个待测功率半导体老化工位分别对应并联的可控开关...
该专利属于中国人民解放军海军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军海军工程大学授权不得商用。

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