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本实用新型涉及BGA封装测试座技术领域,尤其是一种便于自动散热的BGA封装测试座,包括底板和BGA封装测试座,所述BGA封装测试座的前后两侧分别等距连接有自动散热结构,所述BGA封装测试座的顶部插接有支撑板,所述BGA封装测试座的顶部左右两...该专利属于苏州恩斯贝电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州恩斯贝电子科技有限公司授权不得商用。
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