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本发明公开了一种控制器芯片测试装置，涉及电力电子技术领域，待测芯片为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片，通过开关控制电路使功能测试芯片在与待测芯片之间的电路导通时向待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片的输出引脚输出的实际输出...
该专利属于科世达（上海）机电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过科世达（上海）机电有限公司授权不得商用。

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