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一种多功能偏置试验方法技术
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文档序号:36571650
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本发明公开了一种多功能偏置试验方法,包括试验器件、单刀双掷继电器K、VD电源、VG电源、D端单片机、G端单片机、主控单片机,所述试验器件为待测器件,所述试验器件设有D极与G极,所述单刀双掷继电器K分别连接所述试验器件的所述D极与G极,所述单...
该专利属于杭州中安电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州中安电子有限公司授权不得商用。
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