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本实用新型涉及激光器芯片测试技术领域，提供一种激光器芯片的参数测试装置，包括设备主体以及设置在设备主体上的工控机；所述设备主体上设置多个容纳槽；每个容纳槽内配合设置抽拉式的测试槽；每个测试槽内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片...
该专利属于艾科感知科技（大连）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过艾科感知科技（大连）有限公司授权不得商用。

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