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MOS晶体管失配模型的建模方法技术
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文档序号:36340675
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本发明提供了一种MOS晶体管失配模型的建模方法,包括:步骤S1:测试一对MOS晶体管的失配值;步骤S2:建立所述失配值与所述MOS晶体管的沟道长度和沟道宽度之间的关系式;步骤S3:循环步骤S1~步骤S2,以获取多对MOS晶体管的失配值与所述...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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