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检查系统和方法技术方案
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文档序号:36327040
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本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统,包括:承载装置;至少一个射线源;和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察,至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。
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